基于P63壓電納米定位臺(tái)、SEM及白光干涉儀的納米切削裝置
納米切削中刀具的納米級(jí)微進(jìn)給、切削過(guò)程的高分辨率觀測(cè)及加工后的測(cè)量都是納米切削中需要解決的幾個(gè)重要問(wèn)題。為解決該系列問(wèn)題,可通過(guò)利用壓電納米定位臺(tái)、SEM掃描電子顯微鏡,分別完成刀具納米級(jí)步進(jìn)及高分辨率觀測(cè),加工完成后,再通過(guò)白光干涉儀對(duì)加工后的尺寸進(jìn)行測(cè)量。其中,刀具的納米車(chē)削進(jìn)給是采用芯明天P63壓電納米定位臺(tái),它的行程為8µm,閉環(huán)分辨率可達(dá)0.6nm以上。
該納米切削裝置的結(jié)構(gòu)及實(shí)際安裝實(shí)物如下圖中所示。
結(jié)構(gòu)原理圖
安裝結(jié)構(gòu)實(shí)物圖
切削過(guò)程
通過(guò)粗調(diào)平臺(tái)將刀具與待加工件間距離調(diào)整至2~3µm,通過(guò)SEM觀測(cè)。再通過(guò)芯明天壓電納米定位系統(tǒng)控制刀具緩慢向待加工件表面移動(dòng),直至接觸,并記錄位置,再次移動(dòng)刀具至加工點(diǎn),預(yù)切削后,再通過(guò)壓電納米定位系統(tǒng)控制刀具進(jìn)行納米級(jí)車(chē)削,SEM進(jìn)行整個(gè)切削過(guò)程的觀測(cè)。P63壓電納米定位臺(tái)具有X、Y、Z 三自由度的運(yùn)動(dòng),并能夠?qū)崿F(xiàn)聯(lián)動(dòng)控制,該納米切削過(guò)程可實(shí)現(xiàn)不同速度的切削、斜切以及正弦曲線切削等功能。
P63壓電納米定位臺(tái)
P63壓電納米定位臺(tái)技術(shù)參數(shù):
運(yùn)動(dòng)自由度:XYZ
行程范圍:8µm/軸
閉環(huán)分辨率:0.2nm
閉/開(kāi)環(huán)階躍時(shí)間:1.5ms/0.3ms
承載能力:400g
通過(guò)該裝置進(jìn)行了高真空條件下的納米切削,實(shí)驗(yàn)測(cè)得在慢速切削(15~20s)下,對(duì)單晶銅設(shè)置切削50nm、150nm的切削深度,經(jīng)過(guò)P63壓電納米定位系統(tǒng)車(chē)削加工后,再經(jīng)白光干涉測(cè)量,實(shí)際切深為59.3nm、161.2nm。
切削精度受多種因素的影響,如材料性能(如硬度、脆性等)、刀具尺寸、溫度等,在慢速切削下達(dá)到10nm左右的偏差,已能滿足大部分納米切削的精度要求。
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